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  • XAU-4C（B）國產膜厚儀 電鍍測厚儀

    國產膜厚儀 電鍍測厚儀 1.微小樣品檢測：小測量面積0.03mm²（加長測量時間可小至0.01mm²）2.變焦裝置算法：可改變測量距離測量凹凸異形樣品，變焦距離可達0-30mm3.EFP算法：Li（3）-U（92）元素的涂鍍層，多層多元 素，甚至有同種元素在不同層也可精準測量。 4.*的解譜技術：減少能量相近元素的干擾，降低檢出限。 5.高性能探測器

    更新時間：2025-08-28
    型號：XAU-4C（B）
    廠商性質：經銷商
    瀏覽量：3415
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